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超聲波無損探傷是目前應用相當廣泛的無損探傷手段，此類傳感器和光電開關傳感器是完全不同的。常用的有以下幾種類型： A型超聲波無損探傷： A型超聲波無損探傷是利用超聲波在傳播過程中遇到其他介質(zhì)會反射的特性進行探傷的，其結果以二維坐標注表示，橫軸對應時間，縱軸對應反射波強度，可以從二維坐標注中直接分析出缺陷的深度和大概尺寸。 B型超聲波無損探傷： B型超聲波無損探傷的原理和醫(yī)學上的B超類似，探頭的橫坐標注對應掃描距離，縱坐標注對應探傷嘗試，屏幕的輝度亮度反映反射波的強度。其掃描過程是利用計算機控制發(fā)射晶片陳列來完成與機械移動探頭相似的掃描動作，具有掃描速度快、定位準確的特點。 C型超聲波無損探傷： C型超聲波無損探傷的工作原理和醫(yī)學上的CT掃描類似，其掃描過程是采用計算機控制探頭中的三維晶片陳列，使探頭在材料的縱探方向進行掃描，掃描結果可以繪制出材料內(nèi)部缺陷的橫截面圖。 |
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